TOC 检测技术

NDIR 检测器不如两种电导检测器稳定且经常需要校准，有时每天都需要校准。 而两种电导型检测器可以稳定校准且具有较高的灵敏度。 这两类电导之间的主要差异是直接检测器易于受到离子污染物、酸、碱和卤化有机物的干扰。 在基于薄膜的电导方法中，薄膜是离子干扰的保护屏障，可以只分析 CO2，。 从而得到更加准确的 TOC 读数。

GE 分析仪器 TOC 检测技术
已获得专利的 Sievers? 薄膜电导检测方法也称为“选择性薄膜电导”，最初是为美国国家航空航天署 （NASA）开发，当时是为了研发监控太空中饮用水质量的仪器。 所研制的Sievers 800型TOC分析仪代表了 TOC 分析的真正突破。 800 型技术于 1993 年引入市场，在半导体和制药行业内赢得了市场领导地位，在发电和城市水处理领域也得到广泛应用。 Sievers 产品线从此迅速发展，如今Sievers 500 RL 和 900 系列 TOC 分析仪提供了无与伦比的分析性能、可靠性和易用性，满足了您的具体应用需求和 21 世纪严格的质量理念管理要求。

用于测量 TOC 的Sievers? 薄膜电导检测方法在几个关键方面不同于直接电导或“非选择性检测”技术，这可以在我们的两个技术动画中看到。 您需要 Flash 6 播放器来观看这些动画。 若要下载免费副本，请单击此处。 若要观看动画，请选择以下某个链接。 若需查看过程中的每个步骤的说明（英文），请单击每个插图中的数字。

• Sievers 薄膜电导检测
• 非选择性电导检测

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